併催企画
光計測シンポジウム2011
| 日 程： | 10月14日（金） |
| 時 間： | 10：00〜16：10 |
| 会 場： | 東京ビッグサイト 会議棟 605室 |
| 主 催： | 日本光学測定機工業会 |
| 参 加 費： | 5,000円（論文集代を含む） |
| お申込方法： | 申込フォームからお申込下さい。〈9月30日（金）締め切り〉 ※お申込み多数の場合は締め切り前でも募集を打ち切ることがあります。 |
| お問合せ先： | 日本光学測定機工業会｢光計測シンポジウム｣事務局 〒105-0011 東京都港区芝公園3-5-8 機械振興会館204 TEL・FAX. 03-3435-8083 E-mail. info@j-oma.jp |
プログラム
| 時間 | 講演題目/発表者（＊登壇者） |
|---|---|
| 【座長】 佐々木修己〔新潟大学〕 | |
| 10:00-10:20 | 産業用ポータブルOCT スキャナーの技術展開 〔千葉大学〕 ＊椎名達雄 |
| 10:20-10:40 | 柱状物の2点間距離の精密な光散乱計測法 〔筑波大学〕 ＊星野鉄哉、谷田貝豊彦、伊藤雅英 |
| 10:40-11:00 | パイプ内面のキズ検査 〔埼玉医科大学〕 ＊吉澤 徹、若山俊隆、鎌倉吉寿 |
| 11:00-11:10 | 休憩 |
| 【座長】 藤本洋久〔オリンパス(株)〕 | |
| 11:10-11:30 | 波面差分データからの波面導出演算法と鏡面形状計測 〔新潟大学〕 ＊佐々木修己、渡辺旭宏、鈴木孝昌 |
| 11:30-11:50 | 三次元スキャナによる手術ナビゲーター 〔パルステック工業(株)〕 ＊高井利久 |
| 11:50-12:10 | 縞パターンの投影による半透明体の濁度測定法 〔木更津工業高等専門学校〕＊小田 功 （北海道立工業技術センター）菅原智明、吉岡武也 |
| 12:10-13:00 | 休憩 |
| 【座長】 明田川正人〔長岡技術科学大学〕 | |
| 13:00-13:20 | あらゆる環境下での確信ある干渉計の追究 〔キヤノンマーケティングジャパン(株)〕 ＊鈴木秀和 |
| 13:20-13:40 | 白色光干渉計搭載型画像測定機 『QUICK VISION WLI シリーズ』 〔（株）ミツトヨ）〕 ＊本橋 研、浅野 秀光、長濱 龍也、井村 隆治、石山 拓 |
| 13:40-14:00 | リアルタイム3波長ワンショット干渉計測法の開発 〔東レエンジニアリング（株）〕 ＊小林 央、北川 克一 |
| 14:00-14:20 | 非接触マルチセンサ3D計測システム HN-6060の開発 〔（株）ニコン〕＊清水房生 |
| 14:20-14:40 | 多関節型三次元測定機による光学非接触測定 〔(株)小坂研究所〕 ＊江原史和、古橋圭介 |
| 14:40-14:50 | 休憩 |
| 【座長】 有賀 亨〔キヤノン(株)〕 | |
| 14:50-15:10 | LED計測管理紹介 〔（株）トプコン）〕＊春原広明、友松秀和、鶴岡政義、井崎雄三 |
| 15:10-15:30 | 位相子と検光子の二重回転型分光ストークス偏光計 〔宇都宮大学〕 ＊水谷亮太、大谷幸利 |
| 15:30-15:50 | 周波数標準を用いた光共振器絶対光学長測定 〔長岡技術科学大学〕 ＊明田川正人、村井慶之介 |
| 15:50-16:10 | 波長走査干渉計による石英ガラス平板の厚さ測定 〔独立行政法人産業技術総合研究所〕 ＊日比野 謙一、 近藤 余範、 金 亮鎮 |
実務応用セミナー 【登録不要（会場まで直接お越しください）】
| 日 程： | 10月13日（木）・14日（金） |
| 会 場： | 展示会場内 |
| 参 加 費： | 無料 |
プログラム 敬称略
| 10月13日（木） | ||
| 11：00-11：45 | （株）トプコンテクノハウス | 照明のLED化と質の変化に対応した測定方法について 講演者：高岡 明比呂 |
| 13：00-13：45 | ボリュームグラフィックス（株） | X線CTデータを用いた寸法計測とさらなる解析 講演者：佐藤 充男 |
| 14：00-14：45 | （株）ニコンインステック | 高さ分解能1pmを達成した高さ測定白色干渉顕微鏡システム 講演者：（株）ニコン インストルメンツカンパニー 営業戦略部 西川 孝 |
| 15：00-15：45 | （株）ミツトヨ | FIBER SCALE - 光ファイバ導波を応用した超小形リニアエンコーダ - |
| 10月14日（金） | ||
| 11：00-11：45 | （株）ベイビッグ | 3次元計測システムについて 講演者：大浦 覚 |
| 13：00-13：45 | トリモス・シルバック ジャパン（株） | 1. ネジリングゲージの測定不確かさ低減へ測長機の応用例（20分） 講演者：飯島正経、Juerg Lendi 2. ドイツVDA規格 Aq値を用いた表面粗さ形状測定例（20分） 講演者：飯島正経、Dr. Rainer Brodmann |
| 14：00-14：45 | 中央精機（株） | 追従性に優れた「オートフォーカス顕微鏡」 講演者：佐藤 次幸 |
| 15：00-15：45 | （株）ミツトヨ | 粗さ・輪郭形状測定機の最新動向と測定提案 |
新技術発表コーナー
| 日 程： | 10月12日（水）〜14日（金） |
| 会 場： | 展示会場内 |
| 参 加 費： | 無料 |
プログラム
| 宇都宮大学オプティクス教育研究センター | 宇都宮大学オプティクス教育研究センターにおける偏光計測技術の紹介 |
| 木更津工業高等専門学校／ 北海道立工業技術センター |
光応用新技術の紹介および実用化を目指している 新規的なイカの鮮度評価法の紹介 |
| （独）産業技術総合研究所 | 角度の超高精度計測を実現する自己校正機能付きロータリエンコーダ |
| NPO三次元工学会／埼玉医科大学 | 光学式内径および内面形状計測装置 |
| 千葉大学大学院融合科学研究科 椎名研究室 | ポータブルOCTスキャナー／超小型LEDライダーの産業展開 |
| 長岡技術科学大学 精密加工機構測定研究室 | 軸受運動誤差測定装置／超音波振動を利用した各種薄板の非接触搬送装置 |
技術相談コーナー
| 日 程： | 10月12日（水）〜14日（金） |
| 会 場： | 展示会場内 |
| 参 加 費： | 無料 |
近年、成形加工技術などの高度化に伴い加工物が複雑になると共に測定機も多様化しており、専門技術者でも困る場合があります。
当展示会では、会場内に専門技術者による技術相談コーナーを開設し、ご相談を秘密厳守でお受けしております。
お気軽にご利用ください。