展示会事務局

産経新聞社 東京本社
事業本部 コンベンション事業部
「測定計測展」事務局

〒100−8079
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TEL.03-3273-6180
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併催行事

基調講演 事前申込制(満席になり次第終了)

製造業におけるデジタルトランスフォーメーション(DX)の加速に向けて

経済産業省 製造産業局産業機械課 課長 安田 篤

平成10年、東京大学工学系研究科航空宇宙工学専攻修了。同年、通商産業省(現経済産業省)入省。商務情報政策局、産業技術環境局などでIT 政策やイノベーション政策、資源エネルギー庁で電力需給政策等を担当した後、製造産業局ロボット政策室長として、ロボット政策を担当。その後、NEDO・IoT 推進部長としてデバイスやIoT 関連のプロジェクトを推進し、令和3年7月に現職に着任。

日   程: 10月6日(水)
時   間: 10:30~11:30
会   場: 東京ビッグサイト会議棟1階 レセプションホールB

IFPEX2021第26回フルードパワー国際見本市
特別講演 事前申込制(満席になり次第終了)

米中対立時代におけるリスクマネジメント~製造業の未来~

三浦 瑠麗

コロナ禍によって加速した米中対立の新時代。世界は地域ごとのパワーゲームとグローバルな対立との二層構造に引き裂かれます。不確実な時代を生き延びるために、どのようにリスクを捉えたらよいのかを提示し、内政がどういったプロセスでグローバルな経済に影響しているかを読み解きます。

日   程: 10月6日(水)
時   間: 13:00~14:30
会   場: 東京ビッグサイト会議棟1階 レセプションホールB

IFPEX2021 第26回フルードパワー国際見本市のウェブサイトよりお申込みください。
これより外部ウェブサイトに移動します。よろしければ下記URLをクリックしてください。
http://www.ifpex.jp/

実務応用セミナー【登録不要 ※会場まで直接お越しください】

出展社による展示会と連動した新製品や新技術のプレゼンテーションを実施いたします。

(敬称略)

会   場:南1ホール内特設セミナー会場

10/6(水)
14:00~14:30 ブルカージャパン株式会社 摩擦摩耗試験機-UMT TriboLab-による表面処理技術の
耐摩耗・耐擦傷性評価

講演者:塚本 和己

15:30~16:00 株式会社第一測範製作所 小径内径測定の世界最高精度を実現

講演者:渡邉 泰良

10/8(金)
10:30~11:00 ブルカージャパン株式会社 白色干渉計と触針計を用いた表面計測 ~基礎から測定事例まで~

講演者:寺山 剛司

12:00~12:30 兵庫県立大学 大面積表面形状のワンショット高精度測定

講演者:佐藤 邦弘

13:25~13:55 株式会社ユーロテクノ 最新の非接触三次元測定機における測定事例

講演者:藤田 篤

16:30~16:50 アンドール株式会社 AI×OCR技術を使った紙図面からの検査表作成

講演者:村田 幸雄

※内容は予告なく変更される場合があります。

新技術発表コーナー

産学連携を推進することを目的に、大学や研究機関に、最新の検査技術・情報を公開していただきます。

研究機関名 発表テーマ
法政大学 理工学部 吉田一朗研究室 工作機械の主軸テーパ穴内面の摩耗を定量測定可能とする新たな光学的計測法の研究
法政大学大学院 精密工学・データサイエンス研究所 データサイエンスを用いたエンジン・自動車部品のための表面性状評価法に関する研究

特別セミナー

意思を通わせるデジタルものづくり ― 設計から検査までの連携と3Dデータ活用 ―

【企画協力: 国立研究開発法人産業技術総合研究所 計量標準総合センター】

日   程: 2021年10月8日(金)
時   間: 10:30~15:00
会   場: 東京ビッグサイト会議棟6階 605会議室
参   加: 無料(要登録)

プログラム

10:30~10:35

挨拶

国立研究開発法人 産業技術総合研究所 計量標準総合センター 工学計測標準研究部門
幾何標準研究グループ 主任研究員 佐藤 理 氏

10:35~11:10

計測につながる注記付きCADデータ(3DAモデル)の作成と変換

株式会社エリジオン CTO 相馬 淳人 氏

11:20~11:55

3DA(QIF規格)によるDX「測定・品質保証」ソリューション

QVIジャパン株式会社 代表取締役 中村 聡 氏

12:05~12:40

部品測定のための図面指示方法

富士フイルムビジネスイノベーション株式会社 品質保証部 担当マネージャー 重田 国啓 氏

13:40~14:15

自動検査プロセス実現を目指した非接触測定ガイドラインの策定

3D+1ラボ 代表 髙橋 俊昭 氏

14:25~15:00

X線CTの活用事例紹介
(樹脂成形 金型補正プロセスにおける計測用CT装置の活用)

株式会社栃木ニコン 技術統括部 第4生産技術部 成形技術課 大森 敬介 氏

※内容は予告なく変更される場合があります。

精密測定機器、座標測定機セミナー

日   程: 10月7日(木)
時   間: 10:00-17:00
会   場: 東京ビッグサイト会議棟6階 605、606 会議室 および、ZOOMウェビナー
主   催: 日本精密測定機器工業会
参 加 費: 無料 (会員はテキスト代も無料。会員以外はテキスト代をご負担下さい)
お申込方法: 日本精密測定機器工業会HPから受講申込書をダウンロードして頂き、必要事項をご記入後、事務局までメールに添付の上お申し込みください。
https://www.jpmia.gr.jp/information/
※お申込み多数の場合は途中で募集を打ち切ることがあります。
お問合せ先: 日本精密測定機器工業会「セミナー」事務局
〒105-0003 東京都港区西新橋3-14-2
TEL. 03-3434-9557 FAX. 03-3434-1695
E-mail. info@jpmia.gr.jp

プログラム

10:00-11:00

自動車の電動化に伴う製造業への影響と車両生産に於ける技術課題

慶應義塾大学 理工学部 システムデザイン工学科 教授 青山 英樹 氏

本講演では、環境問題に対応するため自動車の電動化が推進されてきている中で、それに伴う製造業への影響について考える。また、電動化自動車に限らず、自動車を開発するために解決すべき技術的課題を検討する。
11:00-11:55

検査における合否判定の新基準

東京電機大学 工学部 先端機械工学科 教授 古谷 涼秋 氏

新JIS B 0641-1には、ISO 14253-1の合否判定基準に加えて経済性を考慮した合否判定基準(ISO / TR 14253-6)が付属書JAに含まれる。これらの合否判定基準について講演する。
12:50-13:45

幾何公差表示方式の最新ISO規格(ISO 1101:2017)の概要

関東学院大学 理工学部 理工学科 教授 金田 徹 氏

現在のJIS B 0021:1998は、ISO/DIS 1101:1996に対応しているが、最新のISO 1101は、150ページを超える内容で、上述のJISにはない新規項目が多く追加されている。また、ISO 1101:1983に対応したJIS B 0621:1984もある。この背景のもとで、現行のJISに含まれない項目の概要を紹介する。
13:45-14:40

表面性状評価の最新規格動向 ―新たな表面性状規格群の解説―

岩手大学 理工学部 システム創成工学科 准教授 内舘 道正 氏

表面粗さなどの表面性状を図示・評価するための新たな規格群が間もなくISO 21920シリーズとして発行され、関連するフィルタ処理等の規格も変更となる。新たな図示記号、パラメータ、評価手順などを解説する。
14:50-15:10

CMM都市伝説:測定結果のソフトウェア依存性について

山梨県産業技術センター 甲府技術支援センター 機械技術部 主幹研究員 石黒 輝雄 氏

「自社と納品先のCMMで幾何公差の値が違う」こんな経験や相談を受けたことはないでしょうか。所有機器の幾何公差とISOに準じた幾何公差算出方法について理解しておくことの重要性について講演する。
15:10-15:30

CMM都市伝説:偏荷重が測定値に及ぼす影響

熊本県産業技術センター ものづくり室 研究参事 川村 浩二 氏

本研究では、三次元測定機(Coordinate Measuring Machine)の定盤上に600kgの重りを載せて、配置を変えながら偏荷重を与えた際の測定値に及ぼす影響を検証した。
15:30-15:50

CMM都市伝説:非接触三次元測定機におけるワーク設置位置の影響

名古屋市工業研究所 システム技術部 生産システム研究室 研究員 岩間 由希 氏

3Dデジタイザなどの非接触三次元測定機は短時間で広範囲のデータを取得できる利点があるが、測定エリア内でのワーク設置位置が異なっても得られる結果は同一として扱えるのか、検証を実施した。
16:00-16:20

CMM都市伝説:ロータリーテーブルを用いたスキャニング測定の精度について

栃木県産業技術センター 機械電子技術部 生産システム研究室 主任研究員 石川 信幸 氏

ロータリーテーブルとスキャニングフローブを用いた同期倣い測定において、測定速度と基準変位が輪郭測定結果に与える影響について検証を行った。
16:20-16:40

デジタルインジケータゲージJIS B 7563の解説

株式会社ミツトヨ 中津川工場商品設計課 課長 足立 浩一 氏

デジタルインジケータゲージはあらゆる分野で広範囲に使用される測定器である。新たにJIS規格が2021年1月20日に公布された。本説明会では標準化背景や規格概要を解説する。
16:40-17:00

ノギスISOの変更から見えるJIS改正について

株式会社ミツトヨ 字都宮事業所測器工場品質管理課 課長 篠原 利行 氏

ノギスのISO規格が2019年に改正された。特に計測特性に具体的な内容が記載され、JIS規格として国際規格に整合させた改正が必要となる。

※内容は予告なく変更される場合があります。

技術相談コーナー(展示会場内)

当展示会では、会場内に専門技術者による技術相談コーナーを開設し、ご相談を秘密厳守でお受けしております。
お困りごとなどございましたら、ご予約の上、お気軽にご利用ください。

  10月6日(水) 10月7日(木) 10月8日(金)
10:00-12:00
  • 座標測定機部会
  • 座標測定機部会
  • 光学測定機全般
  • デジタルスケール部会
  • 光学測定機全般
12:00-14:00
  • 座標測定機部会
  • ノギス・マイクロメータ部会
  • 座標測定機部会
  • 光学測定機全般
  • ダイヤルゲージ部会
  • ゲージ部会
  • 光学測定機全般
  • 電気マイクロ部会
14:00-16:00
  • 座標測定機部会
  • 光学測定機全般
  • 座標測定機部会
  • 光学測定機全般
  • 形状・粗さ部会
  • 光学測定機全般

光計測シンポジウム 2021

日   程: 2021年10月6日(水)
時   間: 10:00-16:00
会   場: 東京ビッグサイト 会議棟6階 605会議室および、オンライン(ウェビナー)
主   催: 日本光学測定機工業会
参 加 費 用: (論文集込)
  一般参加 賛助会員 正会員
全日参加 6,000円 4,000円 3,000円
お申込方法: 日本光学測定機工業会HPから受講申込書をダウンロードして頂き必要事項ご記入後、事務局までメールに添付の上お申し込みください。
https://www.j-oma.jp/info_expo/expo03.html/
お問合せ先: 日本光学測定機工業会「光計測シンポジウム」事務局
TEL・FAX. 03-3435-8083
E-mail. info@j-oma.jp

プログラム

時間 演題項目/発表者(〇登壇者)
【開会挨拶】 明田川 正人(日本光学測定機工業会 技術顧問)
【座長】 新井 泰彦(関西大学)
10:05-10:25

正弦波変調干渉計の高分解能化

〇樋口 雅人、福永 琢真、韋 冬、明田川 正人(長岡技術科学大学)

10:30-10:50

波長走査干渉法による高精度絶対距離測定

〇北川 克一(技術コンサルタント)、溝尻 旬(株式会社溝尻光学工業所)

10:55-11:15

10pm精度と10MS/sデータレートを有する高精度・高速
ヘテロダイン干渉変位計

〇横山 修子、横山 敏之(日本マイクロ光器株式会社)

  休憩
【座長】 明田川 正人(長岡技術科学大学)
11:25-11:45

微細形状測定用ファブリ・ペロー干渉計内蔵小径光
ファイバスタイラスの開発

〇村上 洋、甲木 昭雄、佐島 隆生、内山 晃介(北九州市立大学)

11:50-12:10

位相差顕微鏡法によるワイドギャップ半導体結晶の貫通転位の
3次元非破壊検査

〇服部 亮、陳 昱翔、村上 和嗣(セラミックフォーラム株式会社)

12:15-12:35

ミツトヨCNC画像測定機と最新技術

〇伊藤 隆洋 (株式会社ミツトヨ)

  休憩
【座長】 大谷 幸利(宇都宮大学)
13:30-13:50

空気中と真空中での変位計測干渉計のノイズフロアの比較

〇明田川 正人、逆井 康佑、Thanh Dong Nguyen、樋口 雅人、
韋 冬(長岡技術科学大学)

13:55-14:15

大規模空間・非接触測定機の計測技術と実用的事例

〇岸川 知里、山下 青峰、荒井 正範(株式会社ニコン)
/ 森本 樹、Ghassan Chamsine(Nikon Metrology Inc.)

14:20-14:40

大気・ガス計測用LEDミニライダーの感度向上

〇椎名 達雄、ノフェル ラグロサス、シャフケティ アリフ(千葉大学)

  休憩
【座長】 椎名 達雄(千葉大学)
14:50-15:10

カラーフルストークス・イメージャーとその応用

〇大谷 幸利(宇都宮大学 オプティクス教育研究センター)

15:15-15:35

広視野高分解能ビデオマイクロスコープユニット
WIDE VMU-HRとその応用

〇本間 崇司、福本 泰(株式会社ミツトヨ)

15:40-16:00

テラヘルツ偏光計測による樹脂内部残留応力の評価法の研究

〇町田大和,高橋理央,斎藤伸吾,関根徳彦,梶原優介,吉田一朗(法政大学)

【挨拶】 浜田 智秀(日本光学測定機工業会 会長)

※内容は予告なく変更される場合があります。

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